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  • 产品名称:多功能超声波测厚仪CMX2-DL/CMX3-DL

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简单介绍:
► 基于 FPGA 技术的 100MHz 数字信号处理平台 设计 ► 双通道-双脉冲发生器和接收器 ►250Hz 脉冲重复频率(PRF) ►CMX2-DL,1/8 英寸 VGA 灰度显示 CMX3-DL ,1/4 英寸 VGA 彩色显示 ► 屏幕刷新率:灰度 25Hz,彩色 60Hz 100dB 可调增益范围,自动增益控制(AGC) ► 时间相关增益(TDG),具有可调的斜率 ► 双晶探头和单晶探头 ► 内置 4GB SD卡 ► USB Type-C 数据接口 ► 美国制造 ► CMX2-DL 替代 CMXDL+ CMX3-DL 替代 CMXDL+彩屏版
详情介绍:

多功能超声波测厚仪CMX2-DL-CMX3-DL

特点:

基于 FPGA 技术的 100MHz 数字信号处理平台 设计

双通道-双脉冲发生器和接收器

250Hz 脉冲重复频率(PRF)

CMX2-DL,1/8 英寸 VGA 灰度显示

CMX3-DL ,1/4 英寸 VGA 彩色显示

屏幕刷新率:灰度 25Hz,彩色 60Hz

100dB 可调增益范围,自动增益控制(AGC)

时间相关增益(TDG),具有可调的斜率

双晶探头和单晶探头

内置 4GB SD卡

USB Type-C 数据接口

美国制造

CMX2-DL 替代 CMXDL+

CMX3-DL 替代 CMXDL+彩屏版

测量:

脉冲-回波(P-E)模式测量范围:

0.63mm~30.48m(钢)

脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围:

0.63mm~30.48m(钢),0.0254~2.54mm(涂层)

脉冲-回波温度补偿(PETP)模式 测量范围:

0.63mm~30.48m(钢)

回波-回波(E-E)模式测量范围:

2.54~152.4mm(钢,穿过涂层测量,范围取决于涂层)

回波-回波验证(E-EV)模式测量范围:

2.54~102mm(钢,穿过涂层测量,范围取决于涂层)

测量涂层(CT)模式测量范围:

0.0127~2.54mm(涂层)

分辨率:0.01mm 和 0.001mm

声速范围:309.88~18542m/s

单位:公制或英制

一点和两点校准方式

显示:

CMX2-DL:1/8 英寸 VGA 灰度显示屏,240x160 象素

可视区 62x45.7mm,EL 背光,25Hz 刷新频率

CMX3-DL:1/4 英寸 AMOLED 彩色显示屏,320x240 象素

可视区 43.2x57.6mm,60Hz 刷新频率

A-扫描方式:检波+/-(缺陷视场),RF(全波视场)

纵向和横向视图(CMX3-DL)

B-扫描方式:基于时间的横截面视图,显示速度为每秒 10 到

200 个读数

大数字方式:标准厚度显示,数字高度 17.78mm(CMX2-DL)

和 14.35mm(CMX3-DL)

厚度条形扫描:速度 33Hz,在 B-扫描和大数字显示模式中可见

稳定度指示:表示测量值的稳定性

功能状态指示:显示当前激活的功能

超声波参数:

测量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT 模式

脉冲:可调方波脉冲发生器

接收:根据选择模式采用手动调节增益或自动增益控制

(AGC),范围:110dB

阻抗 50~1500Ω可调

计时:单次 100MHz 8 位超低功耗数字化仪的**

TCXO 计时

冲重复频率:250Hz

探头:

频率范围:1~20MHz

探头种类:

双晶探头

延迟块、接触式、笔形单晶探头

LEMO 接口,1.2 米探头线

存储:

容量:内置 4GB SD 卡

数据结构:网格(字母数字)和顺序(自动识别)

截屏功能:位图图形捕获,用于快速记录

数据输出:通过 USB Type-C 传输到计算机

其它:

键盘:12 个触摸键

电源:标准配置为三节 5 号碱性电池,电量状态指示。

无操作五分钟后自动关机。USB Type-C 供电

外壳:挤压铝机壳,底盖用镀镍铝板加密封垫封装

工作温度:-10~60℃

尺寸:63.5x165x31.5mm

重量:385g(包括电池)

符合 NIST 和 MILSTD-45662A 标准

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