产品名称：奥林巴斯手持式XRF镀层分析仪-V2ES/V2EL-SDD

奥林巴斯手持式XRF镀层分析仪

（碳载铂）V2ES/V2EL-SDD

V2ES/V2EL-SDD

一、奥林巴斯手持式XRF镀层分析仪简介

奥林巴斯手持式XRF元素分析仪是全球专业的微型X荧光光谱技术商，生产的 Vanta系列、Delta系列、OMEGA系列、Alpha系列便携式X射线萤光光谱分析仪占据欧美手提式X荧光分析仪70%的市场份额。奥林巴斯手持式XRF是全球**通过ISO9001质量体系认证的微型X荧光光谱技术分析仪器的生产厂商，同时通过了NATO AQAPI标准。

奥林巴斯手持式XRFX射线荧光光谱分析仪已经被广泛应用于地质、采矿、金属、土壤、环境、考古、木材、电子、医药、环保、汽车催化器、电力、石化、玩具、大型工程、锅炉制造、再生资源金属、玻璃的回收、刑事证据鉴定等各种不同领域的日常分析。

奥林巴斯手持式XRF于2006年与公司合作，成立了在中国**的销售服务中心。为中国地区的客户提供仪器安装、软件调试、使用培训、仪器校验、硬件维修与维护等售后服务。全程追踪式售服管理体系让你没有后顾之忧。奥林巴斯手持式XRF，被联合国原子能机构和联合国环境规划暑确认为*有效检的应对有害元素检测、矿石分析、合金分析、环境分析的产品，目前正服务于伊朗核查和欧美各大海关等重要部门。

2、Axon技术：X射线荧光领域的颠覆性革新

奥林巴斯新开发的Axon技术，通过提高XRF信号处理的性能，为用户提供重复性极高的**检测结果。Axon技术使用**专有的超低噪声电子设备，提高了X射线探测器的性能，在每秒钟之内可完成更高的X射线计数，从而可以更快的速度获得更可靠的结果。采用了Axon技术的分析仪，在每次检测之间和各个仪器之间，都具有极高的重复性，从而可使用户对检测结果充满信心。Axon技术可以让您体验到不同以往的检测经历。

1.      更高的X射线计数率

更高的X射线计数率可以转化为更快、更**的检测结果，以及更低的检出限。一般来说，对一个探测器参数的优化（如：到峰值时间或计数率），会严重弱化其它一些参数（如：分辨率）。Axon技术*大限度地降低了这个问题的难度。Vanta分析仪可以处理更多的X射线计数，从而可以更快地提供更**的结果。

2.      超低电子噪声的设计

即使其到峰值的时间更短，Axon技术仍能提供优于其它XRF分析仪的分辨率，从而在优化分辨率方面完成了一项重大突破：可为用户提供接近于基本理论极限的分辨率。这种**分辨率可使我们的设备清晰地分辨出聚拢在一起的众多的谱峰。

3.      自动校准能量级别的方式不需要校准样本

很多XRF分析仪只能在启动时和/或定期通过使用内置或外置样本的方式，核查能量级别。引进了Axon技术后，分析仪就可以在每次检测之前的几微秒之内，自动核查能量级别，这种核查可使分析仪具有稳定的能量级别，从而可以提供重复性极高的检测结果，就是说用户**次打开分析仪进行检测所得到的结果与后来在炎热的环境中进行第500次检测所得到结果的**度完全一样。这是其他手持式XRF设备都做不到的事情。

4.      **专有的处理算法，拥有**级别的重置计划

Axon技术的**特性是可使分析仪为探测器触碰到的更多X射线计数，其它XRF分析仪不具备这个性能。**专有的处理算法意味着可以更快地去除堆积计数（当两条或多条X射线同时碰撞到探测器时会出现这种现象），以使分析仪尽快准备好为下一个X射线计数，从而可*大程度地提高探测器的效率。

三、Olympus Vanta系列仪器测厚原理

1. 测厚原理

X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。

2.1 标准曲线法

单层膜：测定由单一元素形成的*表面的膜厚

双层膜：测定各由单一元素形成的*表面和**层的膜厚

合金单层膜：测定２个元素形成的在*表面的合金膜的厚度和组成

2.2 ＦＰ法（Fundamental・parameter Method法）

根据理论计算的方法，*多三层单元素，基底材料无任何限制

条件：样品均一

需要的信息：

设置薄膜样品的类型：对于多层膜样品要知道每层的组成和近视厚度，每层的次序，便于计算理论荧光强度；

每层的密度；

选择合适的特征谱线。

3. 实测案例（VCA仪器测试结果）

Cu/Ag 镀层厚度的测量

Ag 的 厚度范围：2 um ~ 60 um

参考值为库伦法

相对误差 < 5%

四、Vanta V2ES镀层分析仪技术性能

1. 真正实现在现场进行无损,快速,准确的检测,直接显示涂层厚度,Pt载量信息。
2. 能够为汽车，电力等多种行业提供包括铜镀银(Ag/Cu)，铝镀镍(Ni/Al) 在内的多种镀层测厚解决方案，*高可检测三层镀层。
3. 采用了新的Axont技术，在操作性能上达到新的突破，可使用户在短时间内获得更值得信赖的分析结果。 Axon技术可使不同Vanta仪器的各次检测都具有非同一般的高重复性能。
4. 采用了完全重新设计的射线管、无高压电源线、无 RF 噪音、更好的X射线屏蔽。结构更精密，缩短了射线管、探测器与被测样品之间的距离，某些应用信号提高了~40%.
5. 高性能SDD探测器，结合Axon技术实现分辨率突破性进展，检测数据更加精准可靠。
6. 配备探测器防轧装置，保护探测器窗口免受破损，节约成本；
7. 新的滤波轮更轻、更薄，在位置上更加接近被测样品，具有4个滤波器，可适应*高的配置，不同的元素采用不同的滤波器，产生*好的分析效果。
8. 内置的气压计可以纠正气压，气压计压力感应, 可根据不同的压力调整，从而是检测值更加准确。
9. 内置的加速器可探测运动和震动，使仪器不用时待机，拿起时工作。
10. 仪器开机并不需要标准化，可以直接测试，标准化仅仅是可选项。
11. 显示屏：800*480(WVGA)液晶电容式触摸屏，支持直接截屏操作；超大的图标显示，菜单式驱动，工业级Linux®操作系统，分析速度快, 仅需2秒钟就可识别合金元素。
12. 仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感。
13. 工业级IP54防护等级可触摸的显示屏与主机一体化密封设计，可承受野外恶劣的工作环境。
14. 坚固耐用：通过美军标准MIL-STD810G的4英尺（1.22m）高空跌落测试；
15. 无需借助电脑，可在现场随意指定，查看，放大相关元素的光谱图。
16. 密码保护：开机需输入用户名和密码进行登录；
17. 操作语言：英语、法语、西班牙语、德语、日语、简体中文、意大利语、俄罗斯语、葡萄牙语、捷克语等10种供选，自由切换；
18. 电磁干扰被屏蔽，即使在靠近手机或双向无线通信装置处也能正常工作。
19. 多个数据接口：多种方式传输数据，结果导出更加方便，快捷。

 五、Vanta V2ES镀层分析仪应用

镀层种类及厚度测试

在电镀行业，可无损地测量各种基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上金属镀层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等），为电镀配方和工艺的开发及生产过程和电镀产品的质量提供有力证据。

Pt/C催化剂中铂载量测试：

燃料电池结构中*核心的两个部件为MEA和双极板，MEA是集膜、催化层、扩散层于一体的组合件。MEA主要由电催化剂、固体电解质膜和气体扩散层组成.目前使用的电催化剂主要为Pt/C催化剂.

Olympus 便携式元素分析仪能快速检测Pt/C催化剂中Pt载量，速度快且准确无损。

合金材料鉴别（PMI）：

来料检验；库存材料管理；安装材料复检

由于在石化建设，金属冶炼，压力容器，电力电站，石油化工，精细化工，制药，航空航天等行业中，混料或使用不合格的材料会产生严重的**事故。

Olympus 便携式XRF 元素分析仪用以确保生产设备与管道中所使用的合金零部件与设计要求的规格完全一致。

Olympus 便携式XRF 元素分析仪携带方便，使用简单，分析速度快，精度高，其结果直接显示合**号、金属成分的百分比含量，从而使Olympus 便携式XRF 元素分析仪成为合金材料鉴别的全世界**供应商。

金属废料回收

废旧金属的回收、再利用需要Olympus 便携式XRF 元素分析仪，确保对大量繁杂多样的合金种类及材料品质，进行现场快速准确的分析检测。为购销双方在原材料交易时作出迅速、可靠的判定，并提供必要的信息。

质量保证与质量控制（QA/QC）

在金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制（QA/QC）是必不可少的，混料或使用不合格材料必给企业带来损失。Olympus 便携式XRF 元素分析仪被广泛用于从小型金属材料加工厂到大型的飞机制造商的各种制造业。已成为质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的**仪器。

六、V2ES/V2EL-SDD镀层分析仪元素分析范围

可分析从从镁 (Mg)到铀 (U)之间的所有多种元素。

八、奥林巴斯手持式XRF元素分析仪技术规格